微磁检测中表面切向磁场强度的线性外推测量方法

作者:刘秀成马坤王磊尚万里吴斌何存富

关键词: 线性外推法; 切向磁场强度; 磁场调整结构; 磁滞回线;

摘要：表面切向磁场强度是微磁检测中磁特征信号的重要解析标度,其测量精度直接影响微磁检测结果的精度.提出利用霍尔元件阵列同步测取不同提离位置的切向磁场强度,基于线性外推原理准确测量表面的切向磁场强度的新方法.采用有限元仿真优化设计出磁场调整结构,放置于微磁传感器U型磁芯内跨距,可降低切向磁场强度沿提离方向的变化速率,提升线性外推法的精度并抑制提离波动对测量结果的影响.在65Mn钢板中进行的实验测试结果表明,相比电流估算法和单一霍尔元件测量法,应用线性外推法时传感器对磁滞回线的测量精度更高.此外,当磁芯与试件表面的提离处于0～0.5mm范围时,应用线性外推法时传感器对65Mn钢板磁特性参数（饱和磁感应强度和剩余磁感应强度）的测量误差均小于1.13%.

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微磁检测中表面切向磁场强度的线性外推测量方法

作者:刘秀成 马坤 王磊 尚万里 吴斌 何存富

关键词: 线性外推法; 切向磁场强度; 磁场调整结构; 磁滞回线;

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